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X線蛍光めっき層厚測定器FT 230
FT 230デスクトップXRFアナライザの設計により、測定する時間が大幅に削減されました。日立エンジニアは、サンプルの設定や測定レシピの選択に多くの時間がかかることが多いと考え、プロセス中により多くの部品を分析できるように、効率的に自分自身を「設定」できる画期的なアナライザを発売した。自動化および*
製品の詳細
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FT 230の各セクションは、正確にテストし、分析時間を大幅に減らすために設計されています。
- オートフォーカスによるサンプル積載時間の短縮
- Find My Part™ 完全な測定プログラムを設定するために自動的にインテリジェントに識別
- 画面の大部分はサンプルビューを表示するために使用され、**の可視性を提供します
- 自己診断プログラムは機器の状況と安定性を確保する
- 他のソフトウェアとのシームレスな統合により、データのエクスポートが容易に
- 新しいユーザーインタフェースを採用し、非専門家でも直感的で便利に使用できます。
- 機能が強く、同時に4層メッキ層を測定することができる
- 耐久性があり、試練に満ちた生産環境やラボ環境での使用寿命が長い
- ASTM B 568およびDIN ISO 3497準拠
- ENIG（IPC-4552 B）、ENEPIG（IPC-4556）、浸漬スズ（IPC-4554）、浸漬銀（IPC-4553 A）の仕様要件を満たすのを支援
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解析 詳細 X線管 タングステン（W）ターゲット微小焦点X線管、自己上下照射式、＊大50 kV、1000μA、50 W 検出器 高解像度大面積50 mm 2 SDD いちじフィルタ 5個の一次フィルタ（2種のアルミニウム膜、チタン膜、モリブデン膜、ニッケル膜）＋1個の無フィルタ コリメータ 長円形と円形の2種類から選択可能な4つのコリメータ、サイズ範囲は0.01 x 0.25 mmから1 mm（0.5 x 10 milから40 mil） 要素範囲 アルミニウム（13）-ウラン（92） 階層数 *マルチ5層（4層プラス基板） オプション要素 自由選択 たいきほしょう 自動温度と圧力補償 環境 くうき 仕様 エネルギー分散X線蛍光測定めっき層はASTM B 568、DIN ISO 3497 サンプル位置決め 詳細 *大サンプルサイズ 500 x 400 x 150 mm サンプルテーブルストローク 250 x 200 mm サンプルテーブルサイズ 900 x 600 mm-電動試料台、溝付き試料室
270 x 210 mm-電動試料台、試料室を密閉
540 x 540 mm-固定サンプルテーブルサンプルテーブル速度（電動配置） 80mm/s サンプルテーブル精度（電動配置） ≤ 5 μm *大サンプル重量 10 kg-固定サンプル台
5 kg-電動サンプル台z軸ストローク 205 mm さぎょうきょり 5 mm-公称、フォーカスレーザ
5～67 mm-オートフォーカス/オートアプローチ（オプション）サンプルテーブル-Z軸制御 ソフトウェア制御と起動ボタン付きの3方向ジョイスティック（オプション） しゅうそく 7.1 x 5.3 mm 視野（広角カメラ、オプション） 250 x 200mm 位置決め支援 レーザー位置決め、所定ビットレーザー（電動試料台配置） ソフトウェア 詳細 ユーザーインタフェース FT Connect 標準機能 めっき分析（FPと経験分析）、バルク材料成分分析（FPと経験分析）、マルチポイントプログラミング、定性モード、データ履歴、診断、ExTOPEクラウドリンク暗号保護、マルチレベルアクセス制御ソフトウェア インテリジェント識別機能 「マイパーツの検索」（マシンビジョン、QRコード/バーコードスキャン、テキスト検索）、「マイパターンの検索」（マシンビジョン） 言語 簡体字中国語、繁体字中国語、チェコ語、英語、フランス語、ドイツ語、イタリア語、日本語、韓国語、ポルトガル語、ロシア語、スペイン語 PC仕様 Windows 10 64ビットPC 寸法と作業環境 詳細 寸法すんぽう 600 x 815 x 745 mm-密閉サンプル室
900 x 931 x 745 mm-溝付き試料室、電動試料台重量（PCを含まない） 140kg おんどはんい 10 - 40 °C しつどはんい *大相対湿度：90%（結露なし） 電力供給要件 100-240 V±10% ; 47-63 Hz ; 1.5 A 信号塔（オプション） 3層の赤/黄色/緑のLED（X線オン/シャッターオン/計器通電） Au/NIP/Cuの典型的な性能 Au NiP テスト範囲 0.051 - 0.09 μm
(2.00 - 3.55 μin)2.7 - 5.7 μm
(106 - 225 μin)ひょうじゅんごさ 0.025μm（1μin）または5%相対偏差、大きい方を基準とする 0.025μm（1μin）または5%相対偏差、大きい方を基準とする 30 s時の精度（2σ）、0.3 mmコリメータ 0.0025 μm @ 0.09 μm
(0.099 μin @ 3.55 μin)0.026 μm @ 5.7 μm，8 %P
(1.02 μin @ 225 μin，8 %P)Sn／Ni／Cuの典型的な性能 Sn Ni テスト範囲 2.16 - 9.2 μm
(85 - 362 μin)0.97 - 15.1 μm
(38 - 595 μin)ひょうじゅんごさ 0.025μm（1μin）または5%相対偏差、大きい方を基準とする 0.025μm（1μin）または5%相対偏差、大きい方を基準とする 30 s時の精度（2σ）、0.3 mmコリメータ 0.014 μm @ 4.9 μm
(0.55 μin @ 193 μin)0.036 μm @ 4.7 μm
(1.42 μin @ 185 μin)
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